7月8日-10日，中國機(jī)器視覺展在上海盛大舉行，凌云光攜多款創(chuàng)新展品精彩亮相，聚焦AI+Vision為工業(yè)制造注入新質(zhì)生產(chǎn)力。

BeamMaster M² 光束質(zhì)量分析儀

BeamMaster M²是一種用于測(cè)量和評(píng)估激光光束質(zhì)量的儀器，通過測(cè)量M²質(zhì)量因子等參數(shù)來表征激光光束的質(zhì)量，一體化設(shè)計(jì)精致小巧，配置高精度電動(dòng)導(dǎo)軌及高分辨率相機(jī)捕捉激光光斑的圖像，通過圖像處理軟件分析光斑的形狀、質(zhì)心、有效直徑、光束發(fā)散角、束腰直徑、瑞利長度、M²質(zhì)量因子等參數(shù)，實(shí)現(xiàn)快速一鍵式測(cè)量。廣泛應(yīng)用于光學(xué)、激光技術(shù)、光纖通信、材料加工等領(lǐng)域，精確控制和優(yōu)化激光光束的質(zhì)量。

高速真彩色線掃相機(jī)

SF6300系列萬兆網(wǎng)線掃相機(jī)，使用最新多線TDI技術(shù)芯片，輸出高靈敏度圖像。相機(jī)分辨率8K/16K，支持黑白/彩色，最高行頻可達(dá)200KHz，支持標(biāo)準(zhǔn)GenICam協(xié)議。設(shè)計(jì)多種應(yīng)用專屬ISP預(yù)處理功能，如分時(shí)頻閃、多光場(chǎng)控制、空間校正、色彩矯正等算法功能。適用于鋰電、光伏、PCB、印刷、半導(dǎo)體等高精端工業(yè)檢測(cè)場(chǎng)景。

短波紅外顯微自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)

紅外顯微自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)是由凌云光最新研發(fā)的2k分辨率紅外線掃相機(jī)搭配自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)。2K分辨率紅外短波線掃相機(jī)，對(duì)于硅基產(chǎn)品、膜材產(chǎn)品具備較好穿透能力，特別適合半導(dǎo)體等行業(yè)產(chǎn)品內(nèi)部特征識(shí)別及缺陷檢測(cè)。自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)重復(fù)定位精度可達(dá)0.15μm，模塊化設(shè)計(jì)，可針對(duì)不同產(chǎn)品的精度、特征等需求定制方案。廣泛適用于半導(dǎo)體顯微、半導(dǎo)體內(nèi)部缺陷檢測(cè)、FPD線路檢測(cè)等高精度需求場(chǎng)景。

電池片PL檢測(cè)組件

SR-PD系列PL檢測(cè)模組為高功率激光、相機(jī)、鏡頭一體機(jī)。基于光致發(fā)光原理，無接觸檢測(cè)方案，針對(duì)光伏電池片中的隱裂、霧狀、發(fā)黑、吸盤印、石墨舟印、同心圓、皮帶印、臟污等缺陷檢測(cè)，同時(shí)不會(huì)造成二次隱裂缺陷，大幅度提升產(chǎn)線良率，減少不良片流入后段工序?qū)е碌奈锪侠速M(fèi)、產(chǎn)線停機(jī)。
此外現(xiàn)場(chǎng)還展出了16KTDI高速背照式線掃相機(jī)、高性能棱鏡真彩色線掃相機(jī)、高性能板級(jí)面陣相機(jī)、應(yīng)對(duì)惡劣環(huán)境面陣相機(jī)、邊緣端智能處理器、紅外、線掃全系列相機(jī)等創(chuàng)新產(chǎn)品及應(yīng)用吸引了眾多觀眾互動(dòng)，沉浸式體驗(yàn)產(chǎn)品魅力。
未來，凌云光將以”AI+VIsion”技術(shù)為引擎，持續(xù)在機(jī)器視覺領(lǐng)域不斷推陳出新，為行業(yè)客戶提供創(chuàng)新產(chǎn)品與服務(wù)，助力智能制造從感知互聯(lián)走向萬物智能，推動(dòng)行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。